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可見分光光度計常見故障處理大全

點擊次數:2224 更新時間:2019-03-19

一.光源部分: 


(1)故障:鎢燈不亮; 

原因:鎢燈燈絲(si) 燒斷(此種原因幾率高); 

檢查:鎢燈兩(liang) 端有工作電壓,但燈不亮;取下鎢燈用萬(wan) 用表電阻檔檢測。 

處置:更換新鎢燈; 

(2)故障:氘燈不亮; 

原因:氘燈起輝電路故障; 

檢查:氘燈在起輝的過程中,一般是燈絲(si) 先要預熱數秒鍾,然後燈的陽極與(yu) 陰極間才可起輝放電,如果燈在起輝的開始瞬間燈內(nei) 閃動一下或連續閃動,並且更換新的氘燈後依然如此,有可能是起輝電路有故障,燈電流調整用的大功率晶體(ti) 管損壞的幾率大。 

處置:需要專(zhuan) 業(ye) 人士修理; 

二.信號部分: 

(1)故障:沒有任何檢測信號輸出; 

原因:沒有任何光束照射到樣品室內(nei) ; 

檢查:將波長設定為(wei) 530nm,狹縫盡量開到寬檔位,在黑暗的環境下用一張白紙放在樣品室光窗出口處,觀察白紙上有無綠光斑影像; 

處置:檢查光源鏡是否轉到位?雙光束儀(yi) 器的切光電機是否轉動了(耳朵可以聽見電機轉動的聲音)? 

(2)故障:樣品室內(nei) 無任何物品的情況下,全波長範圍內(nei) 基線噪聲大; 

原因:光源鏡位置不正確、石英窗表麵被濺射上樣品; 

檢查:觀察光源是否照射到入射狹縫的中央?石英窗上有無汙染物? 

處置:重新調整光源鏡的位置,用乙醇清洗石英窗; 

(3)故障:樣品室內(nei) 無任何物品的情況下,僅(jin) 僅(jin) 是紫外區的基線噪聲大; 

原因:氘燈老化、光學係統的反光鏡表麵劣化、濾光片出現結晶物; 

檢查:可見區的基線較為(wei) 平坦,斷電後打開儀(yi) 器的單色器及上蓋,肉眼可以觀察到光柵、反光鏡表麵有一層白色霧狀物覆蓋在上麵;如果光學係統正常,大的可能是氘燈老化,可以通過能量檢查或更換新燈方法加以判斷; 

處置:更換氘燈、用火棉膠粘取鏡麵上的汙物或用研磨膏研磨濾光片(注意:此種技巧需要有一定維修經驗者來實施); 

(4)故障:樣品室放入空白後做基線記憶,噪聲較大,紫外區尤甚; 

原因:比色皿表麵或內(nei) 壁被汙染、使用了玻璃比色皿或空白樣品對紫外光譜的吸收太強烈,使放大器超出了校正範圍; 

檢查:將波長設定為(wei) 250nm,先在不放任何物品的狀態下調零,然後將空比色皿插入樣品道一側(ce) ,此時吸光值應小於(yu) 0.07Abs;如果大於(yu) 此值,有可能是比色皿不幹淨或使用了玻璃比色皿;同樣方法也可判斷空白溶液的吸光值大小; 

處置:清洗比色皿,更換空白溶液; 

(5)故障:吸光值結果出現負值(常見); 

原因:沒做空白記憶、樣品的吸光值小於(yu) 空白參比液; 

檢查:將參比液與(yu) 樣品液調換位置便知; 

處置:做空白記憶、調換參比液或用參比液配置樣品溶液; 

(6)故障:樣品信號重現性不良; 

原因:排除儀(yi) 器本身的原因外,大的可能是樣品溶液不均勻所致;在簡易的單光束儀(yi) 器中,樣品池架一般為(wei) 推拉式的,有時重複推拉不在同一個(ge) 位置上; 

檢查:更換一種穩定的試樣判定; 

處置:采取正確的試樣配置手段;修理推拉式樣品架的定位碰珠; 

(7)故障:做基線掃描或樣品掃描時,基線或信號有一個(ge) 大的負脈衝(chong) ; 

原因:掃描速度設置得過快,信號在讀取時,誤將濾光片或光源鏡的切換當做信號讀取了; 

檢查:改變掃描速度; 

(8)故障:做基線掃描或樣品掃描時,基線或信號有一個(ge) 長時間段的負值或滿屏大噪聲; 

原因:濾光片飼服電機“失步”,造成檔位錯位,國產(chan) 電機尤甚; 

檢查:重新開機有可能回複,或打開單色器對照波長與(yu) 濾光片的相對位置來檢查(注意:打開單色器時要保護檢測器不被強光刺激); 

處置:更換飼服電機; 

(9)故障:樣品出峰位置不對; 

原因:波長傳(chuan) 動機構產(chan) 生位移; 

檢查:通過氘燈的656.1nm的特征譜線來判斷波長是否準確; 

處置:對於(yu) 儀(yi) 器而言處理手段相對簡單,使用儀(yi) 器固有的自動校正功能即可;而對於(yu) 相對簡單的儀(yi) 器,這種調整則需要專(zhuan) 業(ye) 人員來進行了; 

(10)故障:信號的分辨率不夠,具體(ti) 表現是:本應疊加在某一大峰上的小峰無法觀察到; 

原因:狹縫設置過窄而掃描速度過快,造成檢測器響應速度跟不上,從(cong) 而失去應測到的信號;按常理,一定的狹縫寬度要對應一定範圍的掃描速度;或者狹縫設置得過寬,使儀(yi) 器的分辨率下降,將小峰融合在大峰裏了。 

檢查:放慢掃描速度看一看或將狹縫設窄; 

處置:將掃描速度、狹縫寬窄、時間常數三者擬合成一個(ge) 優(you) 化的條件; 

(11)故障:當儀(yi) 器波長固定在某個(ge) 波長下時,吸光值信號上下擺動,特別是測量模式轉換為(wei) 按鍵開關(guan) 式的簡易儀(yi) 器; 

原因:開關(guan) 觸點因長期氧化所致造成接觸不良; 

檢查:用手加重力量按琴鍵時,吸光值隨之變化; 

處置:用金屬活化劑清洗按鍵觸點即可; 

(12)故障:儀(yi) 器零點飄忽不定,主要反映在簡易儀(yi) 器上; 

原因:在簡易儀(yi) 器中,零點往往是通過電位器來調整,這種電位器一般是炭膜電阻製作的,使用久了往往造成接觸不良; 

處置:更換電位器;

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