光學顯微鏡在地質分析中的應用

光學顯微鏡在地質分析已成為(wei) 常規研究技術之一，其優(you) 勢首先在於(yu) 光學檢測的無損性，對樣品的分析提供安全保障；其次是大距離景深，可以更清晰的觀測微區形貌；第三是微區形貌的3D建模和測量功能，可對微區物理結構特征進行量化表征。

偏光顯微鏡的作用及基礎認識

1、單偏光下的晶體(ti) 特性

• 礦物突起

• 礦物糙麵

• 礦物形態

• 解理

• 礦物顏色

• 晶體(ti) 的多色性與(yu) 吸收性

2、正交偏光下的晶體(ti) 特性

• 礦物雙晶的觀察

• 礦片消光類型及消光角的測定

• 幹涉色

• 礦物延性符號的測定

3、錐光鏡下的晶體(ti) 特性

• 確定一軸晶還是二軸晶

• 測定光性符號

• 測量光軸角的大小

部分岩石樣品成像效果

雲(yun) 母類相關(guan) 樣品顯微鏡下成像效果

偏光顯微鏡也有許多配置可供選擇，比如：顯微鏡熱台、陰極發光儀(yi) 、分光光度計等多樣化應用配置需求，滿足不同類型研究者的需求