bruker光學輪廓儀(yi) Contour GT係列利用白光幹涉來測量納米級至微米級的表麵形貌，並且具有業(ye) 界Z大視場下的Z高垂直分辨率。

Bruker檢驗科用原子力顯微鏡結合了原子力顯微鏡和倒置光學顯微鏡並保留了兩(liang) 者各自的優(you) 點，大大減少了對實驗的時間和精力的投入，是生命科學領域易用的原子力顯微鏡。

Bruker AXS 掃描探針顯微鏡Innova是布魯克公司(Bruker AXS)所有掃描探針顯微鏡產(chan) 品中的產(chan) 品，其閉環掃描的噪音水平接近一些開環掃描係統的水平，可廣泛應用於(yu) 器件表征、物理、材料科學和生命科學領域。

Bruker原子力顯微鏡/檢驗科用 Dimension Edge融合了布魯克 Dimension Icon 係列上所應用的一些創新技術，因而達到了同類產(chan) 品的Z高水平，為(wei) 納米尺度的科學研究提供了高效率、高性價(jia) 比的強大工具。