微區X射線熒光光譜儀Atlas

微區X射線熒光光譜儀(yi) Atlas

微區X射線熒光分析儀(yi) Atlas，作為(wei) 一款能量色散型X射線熒光分析儀(yi) （EDXRF），Atlas的空間分辨率、操作自動化，束斑尺寸等諸多性能指標表現優(you) 異，目前Atlas有兩(liang) 個(ge) 型號M和X（尺寸更大）。

微區X射線熒光光譜儀(yi) Atlas

主要技術參數

電路板的X射線麵分布圖，（Cu, Br, Ti, Ca, Fe, Sn, Ni, Zn）

介紹：　　IXRF專(zhuan) 注於(yu) 精確地微區痕量元素分析產(chan) 品，包括齊全的能譜儀(yi) （EDS）和X射線熒光（XRF）。     
　　在硬件方麵，作為(wei) 一款台式XRF，Atlas-M型號的體(ti) 積為(wei) 890×560×560mm，具有較大的樣品倉(cang) 體(ti) 積，相對應的是較大的樣品台行程以及最重的載重量，而與(yu) 此同時，卻可以將樣品台的移動速度提升到300mm/s，移動精度≤1μm。      其采用的毛細管聚焦技術，可將束斑縮至5μm，另外也可通過選用準直器等配件，使束斑在5μm—1000μm之間的範圍內(nei) 可調；其多大8片的濾波片選擇，可滿足更多的分析需求。　　在軟件方麵，作為(wei) 曾因其軟件研發能力而獲得英國政府頒發的千禧年大獎的公司，IXRF在Atlas操作軟件的開發上沿襲了其一貫的專(zhuan) 業(ye) 性及開放性。在數據的獲取及處理上，可實現數據的一鍵采集，或自動或手動的鑒別樣品成分，並利用FP建模或quantitative  match等功能實現樣品成分的定量分析；在圖像處理方麵，不僅(jin) 可對獲取的圖像進行拚接，還可實現相分析、特征顆粒篩選、特征顆粒形態學上的測量及成分分析等功能；在麵分布及線掃描方麵，可同時獲得多達35種元素的信息，並且實現單像素的譜圖數據采集，並可保存下來，後續仍可繼續對此數據進行點線麵等處理。　　在應用方麵，可在各種環境，如大氣、真空以及氦氣等氣氛下分析多種類的樣品，無論是固體(ti) 、液體(ti) 、顆粒、粉末，樣品大小，拋光與(yu) 否，表麵粗糙與(yu) 否皆可輕鬆勝任，且實現無損分析。      鑒於(yu) Atlas的突出的性能特點，其被廣泛的應用到地礦文博、電子器件、環境監測、刑偵(zhen) 醫學、醫藥檢測等方麵。

Atlas-M型號技術參數

特點：

1、 束斑尺寸最小可達5μm；

2、 大樣品台行程（320×320×120mm），移動速度可達300mm/s；

3、 多達8片的濾波片選擇；

應用領域：

1、 地礦文博；

2、 電子器件；

3、 刑偵(zhen) 醫學；

4、 醫藥檢測；

     5、 環境監測。