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WITec掃描近場光學顯微鏡 alpha300S

產品特點:WITec掃描近場光學顯微鏡 alpha300S
WITec公司成立於1997年,是一家為科研和工業應用提供高分辨率光學係統和掃描探針顯微鏡的德國製造商。公司的產品線包括*探針技術的近場掃描光學顯微鏡,高靈敏度和高分辨率的共聚焦顯微拉曼光譜儀和用於材料研究和納米科技的原子力顯微鏡。

更新時間:2024-09-26

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廠商性質:代理商

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產品詳情

WITec掃描近場光學顯微鏡 alpha300S

WITec alpha 300S是一種純近場光學顯微鏡,在很多樣品上都可獲得*的超高分辨率,並且擁有透射與(yu) 反射式兩(liang) 種模式。

該近場光學顯微鏡不同於(yu) 其他的超分辨顯微鏡,如 STED 和 STORM,後二者往往受限於(yu) 熒光染料分子的可選種類及特殊的激發光源。 alpha300S 係統采用軟件可控的快速自動進針及調節等自動測試流程,操作非常簡便、直觀。

由於(yu) 近場光學信號極其微弱,alpha300 S 近場光學顯微鏡配備高靈敏單光子計數的光電倍增管或雪崩二極管,並同時提供檢測器快速超載保護。更重要的是,UHTS 光譜儀(yi) 可與(yu) alpha300S係統兼容,實現近場光譜與(yu) 成像測量。

WITec掃描近場光學顯微鏡 alpha300S

WITec alpha 300S是一種純近場光學顯微鏡,在很多樣品上都可獲得*的超高分辨率,並且擁有透射與(yu) 反射式兩(liang) 種模式。

關(guan) 鍵特性:

  • 突破衍射極限的空間光學分辨率(橫向約 60 nm)

  • *的 SNOM 探針技術

  • 在空氣與(yu) 液體(ti) 中均可使用

  • 包含多種原子力與(yu) 光學顯微鏡模式

  • 非破壞性、無需標記的超高分辨成像技術,基本不需要樣品製備

  • 可升級到關(guan) 聯的共聚焦拉曼成像和近場拉曼成像

  • 集成三種技術到一台儀(yi) 器上:共聚焦顯微鏡, AFM 和 SNOM


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