bruker光學輪廓儀

bruker光學輪廓儀(yi) 產(chan) 品介紹：

Bruker Contour GT 係列光學輪廓儀(yi) 利用白光幹涉來測量納米級至微米級的表麵形貌，並且具有業(ye) 界zui大視場下的zui高垂直分辨率。儀(yi) 器具備多種倍率物鏡（1.25倍-100倍），可以表征具有不同表麵形狀和結構的樣品。而且在任何放大倍數下，係統的縱向範圍都能夠達到亞(ya) -埃至毫米級，其靈活性。Bruker技術-高亮LED雙光源照明-使測量結果不管在科研還是工業(ye) 環境中都具有超高的可靠性和可重複性。

Contour GT係列擁有同類產(chan) 品的易用性：簡潔的操作界麵通過對測量和數據獲取過程的簡化大大提高了係統和人力效率；可視工作流程工具提供了直觀的分析選項。

Contour GT係列可廣泛的應用於(yu) ：精密機械，光伏材料，電子材料，航空航天，光學材料和醫療器械等領域。

bruker光學輪廓儀(yi) 產(chan) 品特點：

·配備傾(qing) 斜調整支架

·全自動X,Y, Z 樣品台

·自動視場目鏡轉換台

·穩定的防震性與(yu) 靈活性的傑出組合

·節省空間高穩定性的基座設計

·與(yu) 機台集成一體(ti) 式的防震係統

·樣品檢測和數據分析能力

·優(you) 化的用戶界麵，直觀簡潔

·可選擇實時的自動測量操作

·用戶可自行設置數據輸出界麵